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特集

MIPTEC診断 ユビキタス時代を迎え、モバイル・ウエアラブル機器の進化は加速度的に進んでいる。 またグローバル化による競争激化を背景に、 開発期間・コストのミニマム化も待ったなしの状況だ。 こんなエレクトロニクスの今が抱える課題に、 一石二鳥的なソリューションを提案するMIDがある。 それが、MIPTECだ。

MIPTEC診断チャート

解決したい問題にあわせたアプリケーション事例を診断します。

MIPTEC設計ルール

最小パターン幅（a） 50μm
最小パターン間隔（b） 50μm
最小スルーホール径（c） 0.25mm
最大アスペクト比（d/c） 2
最小ピン径（e） 0.1mm
最大アスペクト比（f/e） 1
最大3次元段差（g） 約 10 mm
パターン最大斜度（h） 90°
最小エッジ半径（i） 0.1mm
※スルーホルで裏面へもパターンの引き回しが可能
※最小パターン幅/パターン間隔 研究所レベルでは30μm/30μm
※シートサイズの上限は30mm×65mm×10mm。
※納品方法についてはシート又は個片での納品になります。
※多層基板をご要望の場合は別途ご相談ください。

MIPTEC事例紹介

小型化・薄型化（高密度実装）

  • NaPiOn
  • カメラ

高信頼性実装

  • 光コネクタ
  • 車載用光コネクタ

高放熱・高反射

  • セラミックMIPTEC
  • 直角発光LEDパッケージ

組み立て性向上・複合化

  • 磁気・加速度センサ
  • 複合モジュール

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MIPTEC

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基板の表面に立体的に、微細な電気回路を形成する微細複合加工技術 MIPTEC

MIPTECお問い合わせ窓口

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制御機器ビジネスユニット　制御機器コールセンター

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FAX（24時間受付）　06-6904-1573

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