【休業期間のお知らせ】2024年4月27日 (土) ~ 5月6日 (月) の期間、勝手ながら当ウェブサイトへのお問合せの回答を休止いたします。

【パナソニック デバイスSUNX商品 および パナソニック デバイスSUNX竜野商品 製造者変更のお知らせ】
2024年4月1日以降、本ページ内の表記、およびダウンロード対象のマニュアル等の「パナソニック デバイスSUNX株式会社」および「パナソニック デバイスSUNX竜野株式会社」を
全て「パナソニック インダストリー株式会社」と読み替えて適用するものといたします。

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凹凸、偏心、段差、厚み、傾きを非接触で測定

検出方式 特長 分解能 シリーズ名
光/透過式
(レーザライン
CMOSタイプ)
高精度
高機能
1μm
(設置距離20mmにて)
2.5μm
(設置距離100mmにて)
5μm
(設置距離500mmにて)
※繰り返し精度
光/反射式
(レーザ変位)
超高速
高分解能
0.01μm~
小型・
デジタル表示付
0.5μm~
超小型・
デジタル表示付
10μm~
(繰り返し精度)
光/透過式
(レーザライン)
わずかな光量差を
高精度に判別
4μm~
磁気変位 高速・高精度
デジタル変位
0.02%F.S.

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段差、傾き、厚みなどを接触して測定

検出方式 特長 分解能 シリーズ名
接触式変位 スリム&堅牢
高精度
0.1μm~

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