超高速·高精度雷射位移感測器HL-C2

為HL-C2系列開發了專用的HDLC-CMOS感測器。通過最新的CMOS工藝技術和將獨創的信號處理電路集成於受光元件芯片上的“系統芯片”化技術，獲得了高密度的受光元件和接近極限的處理速度。
突破性地實現了一般雷射位移感測器難以達到的高解析度和高速度。
HDLC：High Density Linear Cell

全新設計的最適合HDLC-CMOS感測器的高解析度聚焦鏡。採用本公司最新的光學仿真技術，將像差降低到最小限度。
可將任何角度的光線在受光部以極小點成像，實現了更高的精度。
HiR：HighResolution

獨創的光學配置和光圈結構，實現了發射強度接近理想的近似正態分布的高品質雷射。另外，通過在投光量調整功能中採用新的算法，可以瞬時跟蹤受光量的變化，確保投光狀態始終保持最佳。
MSGB：Micro Spot Gaussian Beam

配備獨創的算法，可以在達到高精度的同時實現高速度。所有信號都經過數字化高速處理。

■受檢工件容許傾斜的範圍更寬
與以往相比，對傾斜的容許度提高了1.5倍，即使測量時工件發生變動，也能輕鬆檢測。
[HL-C203BE(-MK)的情況]

■省空間的小型檢測頭
小型檢測頭，與本公司以往產品相比，體積比下降了約23%，可以將安裝空間減小到極限程度。
[HL-C203BE(-MK)的情況]

■條件設定功能
檢測頭功能及輸出條件等顯示在功能表上，可按順序簡單設定。

■測量數據顯示功能
可以簡便地使感測器安裝時的設定及投光量設定最優化。還可在面板上進行保持及計時等輸入操作。白色背光燈提高顯示螢幕的可視性。

・ 用電腦表計算軟體可確認資料
・ 可收集大多數的感測器感應頭中的資料和控制器的條件設定
・ 收集資料以外，可以確認受光量波形和取得快照

※可從本公司Web網站上免費下載。

■主介面

可確認各種測定條件和狀態、設定的介面，主監控器的Top功能表。
2台檢測頭有兩個輸出，可以各自選擇Tab和設定。

可在控制器中記錄16個設定條件，並以一覽表的形式顯示。可確認在多生產線上的工件的設定條件、在比較和檢查最適合的設定時也相當便利。

■顯示設定值
顯示設定值和各端子的的輸出狀態。測量中發生警報，顯示提示警報。
待機和重置等，也可通過介面上的按鈕實現。

■受光量波形顯示
受光量、受光元件以元件單元表示。同時最大受光量的元件單元以數值顯示、檢測頭設置時確認簡便。

■緩衝器顯示
資料緩衝器連接功能、可讀取在控制器中存儲的資料、顯示波形和資料。此外、資料存儲的方法和存儲週期、存儲資料量等都可在介面中設置。
新追加功能、以測量工件的邊緣和形狀的變化點為觸發器存儲資料。無需介面操作和外部瞬間輸入，有效的處理資料。