제어기기
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라인상의 검출 영역에서 복잡한 형상의 워크를 보다 안정되게 검출할 수 있습니다.
스폿 지름 약 φ1mm(검출 거리 1m)의 동축 미러 반사 타입이므로, 시트롤 잔량을 고정밀하게 검출할 수 있습니다.
워크에 맞춰 스폿 형상을 조정할 수 있으므로, 멀리 떨어진 장소에서 미세한 워크를 검출할 때도 설정을 간단히 할 수 있습니다.
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