법인용 톱 > 전자 디바이스・산업용 기기 > 제어기기 톱 > FA센서・시스템 > 검사ᆞ판별ᆞ측정용 센서 > 검사ᆞ판별ᆞ측정용 센서 > 초고속 레이저 변위 센서 [CCD Style] HL-C1
수주 종료 예정
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고속 100μs 다양한 워크를 고속&안정 측정
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레이저 변위 센서 HL-C1 시리즈는 100μs의 고속 샘플링을 실현. 회전, 진동, 이동 워크의 고속 측정이 가능합니다.
(주) : HL-C1C-GS 제외.
분해능 1μm(HL-C105□), 직선성 ±0.1%F.S.(HL-C102A는 0.05%F.S.)의 고정밀 측정을 실현했습니다.
기존 PSD 방식의 약점을 해결. 소자 위의 스폿광 전체 광량의 중심을 위치 정보로 측정하는 PSD 방식과 달리 이미지 센서 방식은 스폿광의 피크 위치를 측정하므로 금속 줄무늬면이나 반사광량이 적은 검은색 고무 등 워크 표면 상태의 영향을 크게 받지 않아 고정밀 측정이 가능합니다.
레이저 변위 센서 HL-C1 시리즈는 검출 물체, 검출 거리에 따라 6타입, 8기종이 표준으로 마련되어 있습니다. 넓은 측정 범위도 실현할 수 있으므로 다양한 워크, 설치 조건에 대응합니다.
■유리 2장의 틈새 45μm를 1헤드로 안정 검출. |
■장거리에서 넓은 변화 측정 |
■금속 워크의 줄무늬면, 절삭 가공면 등 조면 워크도 안정 측정.
당사의 독자적인 광학계를 통해 스폿의 라인화를 실현. 조면 워크 표면의 미세한 요철에 의한 영향을 평균화해 저감시킵니다. 기존 헤드에서는 측정 편차가 컸던 어플리케이션을 더 안정적으로 측정할 수 있습니다.
미국 수출 기계에 적합한 FDA 규칙 적합 타입이 준비되어 있습니다.
(주) : 일부 기종 제외.
물이 튀는 현장에서도 안심하고 사용하실 수 있습니다. |
RS-232C를 통한 시리얼 입·출력을 장비해 설정 읽기/쓰기, 측정값 읽기가 가능합니다. |
각종 측정 조건의 설정 및 측정값 파형 표시, 측정값 데이터 모니터링, 수광량 데이터 모니터링이 가능한 인텔리전트 모니터를 준비했습니다. 기존의 오실로스코프에서만 가능했던 파형 모니터링이나 각종 조건 설정 · 기능 설정을 컴퓨터상에서 간단하게 할 수 있습니다. |
■디지털 수치 모니터링
・측정값 · 수광량 데이터 모니터링
■파형 모니터링
・측정값 · 수광량 데이터의 파형 모니터링(파형 수집 · 저장 · 읽기)
■컨피규레이터 기능
・각종 조건의 설정 · 저장 · 읽기
・각 기능의 설정 · 저장 · 읽기
■데이터 버퍼링
・측정 데이터 축적
・Microsoft® Excel 대응
디지털 패널 컨트롤러 없이 단차 · 두께를 측정할 수 있는 연산 기능을 컨트롤러에 탑재하여 비용과 공간을 한층 절감할 수 있습니다. |
W40×H120×D74mm의 초소형 · 슬림형 컨트롤러를 통해 공간을 대폭 절약할 수 있습니다. 밀착 설치도 가능합니다. 또한, 배선은 커넥터 연결과 탈착식 단자대 연결로 모두 한 방향에서 연결하므로 여분의 공간이 필요하지 않습니다. |
홀드 기능, 연산 기능, 필터 기능, 히스테리시스 설정 기능 등 다양한 편리한 기능 장비. 다양한 어플리케이션에 대응합니다.
■로우 패스/하이 패스 필터 기능<로우 패스 필터 기능> |
<하이 패스 필터 기능> |
■알람 시 아날로그 출력 전환 기능 |
■홀드 기능 |
■데이터 버퍼링 기능 컴퓨터에 측정 데이터를 입력하기 위해 컨트롤러에 일시적으로 데이터를 최대 48,000데이터만큼 축적할 수 있습니다. 축적된 모든 데이터는 나중에 통신이나 인텔리전트 모니터 HL-C1AiM를 통해 컴퓨터에 입력할 수 있습니다. 도입 시 측정 데이터 확인이나 측정 후 모든 데이터 읽기, 저장 등에 사용합니다.
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