【パナソニック デバイスSUNX商品 および パナソニック デバイスSUNX竜野商品 製造者変更のお知らせ】
2024年4月1日以降、本ページ内の表記、およびダウンロード対象のマニュアル等の「パナソニック デバイスSUNX株式会社」および「パナソニック デバイスSUNX竜野株式会社」を
全て「パナソニック インダストリー株式会社」と読み替えて適用するものといたします。
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FIFOを使用したコンベア制御
概要
検査ステージで検出したワークの良否判定情報をFIFO命令を使用し排出ステージで不良排出を行います。
説明
検査ステージで検査した結果をFIFOバッファへ書込み、排出ステージに到着したワークの検査結果をFIFOバッファから読出し、不良品を排出します。
書込み・読出しデータ中のbit0が検査OK、bit1が検査NG、bit2が検査タイムアウトです。
| X0 | ・・・ | 検査完了 |
|---|---|---|
| X1 | ・・・ | 判定出力（ONでOK、OFFでNG） |
| X10 | ・・・ | 検査部ワーク検出 |
| X11 | ・・・ | 排出部ワーク検出 |
| Y0 | ・・・ | 検査開始（検査装置） |
|---|---|---|
| Y1 | ・・・ | 不良排出（排出シリンダー） |
| WR20 | ・・・ | 書込みデータエリア |
|---|---|---|
| WR21 | ・・・ | 読出しデータエリア |
| R200 | ・・・ | 検査OK（書込み用） |
|---|---|---|
| R201 | ・・・ | 検査NG（書込み用） |
| R202 | ・・・ | 検査タイムアウト（書込み用） |
| R210 | ・・・ | 検査OK（読出し用） |
|---|---|---|
| R211 | ・・・ | 検査NG（読出し用） |
| R212 | ・・・ | 検査タイムアウト（読出し用） |
FIFO動作イメージ
ラダープログラム
|
program_fifo_001.fp |
関連情報
FAセンサ・システム
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